儀器有渦流測(cè)厚原理和磁性測(cè)厚原理之分，磁性法測(cè)量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān)。

　　

　　淬火層測(cè)厚儀的使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，每一種儀器都有一個(gè)臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響；對(duì)試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的;試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量也是不可靠的;探頭會(huì)使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù);基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。

　　

　　高頻交流信號(hào)在探頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，探頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。探頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁颂筋^與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電涂層厚度的大小。由于這類涂層測(cè)厚儀探頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基體上的涂層厚度，所以通常稱為非磁性探頭。